iPhone 6 Plus存新质量问题 恐大规模召回

jopen 6年前

  本身供应就不多 iPhone 6 Plus 接连爆出问题,这次又有新的事情发生。

  台媒、韩国给出的最新报道称,iPhone 6 Plus 存在质量上的问题,其会频繁死机,可能是使用的 TLC NAND 存储器控制 IC 的问题。

  报道中强调,苹果为了节省成本,使用了 TLC NAND 存储器控制,虽然存容量更多,但是读取/写入的速度比较慢。

  之前已经有不少果粉在苹果的官方论坛表示,自己的 iPhone 6 Plus 送修多次,最夸张的一位送修了 4 次依然没有解决问题。业内人士指出,这很可能是 iPhone 内部 NAND Flash 控制的 IC 品质瑕疵所导致。

  如果这是真的,那么苹果或将因此宣布大规模召回。

来自: 驱动之家